


圖2.HBM放電波形

圖3.HBM等級
一般以電壓來表達HBM等級,不同的IC根據使用場景對于HBM等級有不同的要求。而隨著越來越規范的生產制度,HBM模型造成的失效比例在一步步的降低。

圖4.HBM測試模型
2.MM模型。
MM與HBM模型相似,仿真的是機械設備接觸芯片的情況。

圖5.MM放電模型

圖6.MM放電波形

圖7.MM放電等級
MM放電模型也隨著高度規范的生產流程,慢慢淡出人們的視線。現在業界將HBM與MM進行整合,制定了HMM模型。
3.CDM模型 !!!!
這是本期的重點,因為隨著IC規模越來越大,ESD失效中CDM的比重正在快速上升,尤其是數-模不同電壓域的芯片,更易發生CDM事件。
CDM的場景是芯片因為摩擦或者其它原因在襯底內部集聚了很多電荷,當在封裝或者測試時芯片引腳接觸到探針后發生的放電事件。CDM放電事件主要會對MOS器件的柵極造成損壞,造成(dielectric failure)。CDM是三種模型中最難處理的情況,放電時間短,電流幅值大。放電路徑與HBM和MM有差異。

圖8.CDM放電模型

圖9.CDM放電模型

圖10.CDM放電等級
CDM模型500V折算電流是10.4A。而且CDM的脈沖時間極短,大約~0.3ns達到電流最大值。

圖11.CDM放電測試模型
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